Teknikler

Elektronik cihazlarda en sık arıza yapan bölüm besleme kısımları olur.  Besleme arızası aranırken ölçü aletleri kullanılır.  Ekseri dijital ölçü aleti tercih edilir.  Dikkat edilmesi gereken sviçmod besleme devreleri yaklaşık 50 khz frekansında çalıştığından dijital ölçü aletleri  yanlış ölçme şekli ile başlayıp bozulmaktadır.

Özellikle açık arazilerde kurulan telefon santralleri yıldırım ve şimşeklerden kaynaklanan etkilere açıktır. Bu etkilere karşı alınan tedbirlerin başında varistör ile hatlardan gelen elektriksel etkileri toprağa akıtma işlemi vardır.

Bildiğimiz gibi bilgisayarı açtığımızda yada kapattığımızda ekran, monitör, hoparlör gibi bilgisayara bağımlı çalışan elektronik eşyalar biz kapatmadığımız sürece çalışır. Bizlere her zaman kapatması zor gelir. Fakat şu da bir gerçektir ki elektronik eşyalar bekleme durumunda çalıştığında harcadığı enerjiden daha fazla harcar. Ben burada bununla ilgili bir açıklama yapmak istiyorum.

Parlak kağıda (takvim kağıtları) lazer jet yazıcıdan hazırladığınız devreyi çıkartın. Plaketin üzerine çıkardığınız devreyi düzgün bir şekilde yapıştırın. Ütüyü orta sıcaklığa ayarlayın ve plaketin üzerine yapıştırdığınız kağıda basmaya başlayın. Her yerin plakete yapıştığından emin olana kadar ütülemeye devam edin.

Bu yazıda R2600 Serisi Sistem Analizör kullanarak çok genel telsiz testlerinden bazılarını yapmak üzere tipik test düzenekleri anlatılmaktadır.

Osilaskoplar, elektriksel değerleri grafiksel olarak görmemizi sağlayan ölçü aletleridir. En basit bir osilaskopta AC ve DC voltaj, frekans, AM modülasyon ölçme gibi işlemler rahatlıkla görülür ve bunların analizleri yapılabilir.

Put ile tristör veya triac tetikleme devresi. Put ve transistor ile gerçekleştirilen tetikleme ve kontrol devresi. UJT kullanılarak gerçekleştirilen tetikleme devresi. UJT kullanılarak gerçekleştirilen kontrollü tetikleme devresi. Kontrol palsı ile denetlenebilen ve UJT tetiklenen SCR veya TRIAC tetikleme devresi. Silicon Bilateral swith (SBS). Lojik pals girişli Simplex tetikleme devresi.